Présente depuis les premiers balbutiements du REGAL, une initiative de l’Université du Québec à Chicoutimi afin de supporter leurs activités de recherche sur l’aluminium en 2003, l’Université McGill et plus particulièrement le Département de Génie des Mines et des Matériaux, est un des membres fondateurs du REGAL. Depuis le premier jour, Dr. Florence Paray représente les membres de son institution en établissant des ponts entre les universités francophones et son université anglophone, permettant la collaboration entre chercheurs de toute affiliation. Les activités de recherche du nœud REGAL-McGill s’inscrivent dans l’Axe 2 – Transformation et Applications, du programme scientifique du REGAL.
L’expertise des membres est variée. Les projets de recherche aluminium comprennent, entres autres, la fabrication additive d’alliages d’aluminium, le développement et l’ingénierie des procédés de fabrication, d’assemblage et des nanomatériaux en poudre pour des applications structurales ; l’élaboration et la caractérisation des techniques de modification des surface principalement des revêtements, pour améliorer la résistance à l’usure et le contrôle de la friction ; la caractérisation quantitative des microstructures avec les photons et électrons et la modélisation de leurs trajectoires avec des méthodes Monte-Carlo et Casino, la modélisation thermodynamique et le développement de bases de données simulant la conception et la précipitation pour un nouvel alliage d’aluminium.
Le Centre de Caractérisation des Matériaux de McGill (MMC), sous la direction de deux membres REGAL-McGill, Professeur Raynald Gauvin et Dr. Florence Paray, représentent une des principales infrastructures de recherche utilisée par les chercheurs et les membres en formation du REGAL. Avec son expertise scientifique et technique, l’équipe dynamique du MMC contribue à l’enseignement et la recherche ; de plus, des services de caractérisation des matériaux sont aussi offerts à l’externe. MMC offre de l’équipement à la fine pointe de la technologie tel que quatre microscopes électroniques à balayage (SEM), trois diffractomètres Rayon X (XRD), un appareil de tomographie Rayon X (MicroCT0, un système de spectrométrie photoélectron (XPS).
