Appareil à diffraction des rayons X (XRD)

Personne ressource

Houshang Alamdari

418 656-7666

houshang.alamdari@gmn.ulaval.ca

Domaine d'application

  • Analyses physiques et chimiques

Spécialité

  • Spectroscopie

Description

Aeris de Panalytical 2017

  • L’unité XRD est un outil essentiel pour la recherche sur les matériaux. Elle peut produire de l’information sur l’identification des phases, la structure cristalline, les contraintes résiduelles et l’orientation cristallographique (texture).
  • Porte-échantillons de 16 mm et de 33 mm de diamètre
  • Logiciel HighScore avec une base de donnée de plus de 300 000 produits

http://www.panalytical.com/Aeris.htm