MEB pour cartographie cristalline sous contrainte et à chaud

Personne ressource

Victor Songmene

514 396-8869

victor.songmene@etsmtl.ca

Domaine d'application

  • Analyses physiques et chimiques

Spécialité

  • Microscopie

Description

  • Cet équipement est utilisé pour étudier in situ le comportement en service et à chaud de certains alliages et assemblages mécaniques.
  • Ceci est particulièrement pertinent pour les projets reliés aux procédés de mise en forme et d’assemblages de pointe.