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Spécialité d’équipement Spectroscopie

Appareil à diffraction des rayons X (XRD)

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Aeris de Panalytical 2017

  • L’unité XRD est un outil essentiel pour la recherche sur les matériaux. Elle peut produire de l’information sur l’identification des phases, la structure cristalline, les contraintes résiduelles et l’orientation cristallographique (texture).
  • Porte-échantillons de 16 mm et de 33 mm de diamètre
  • Logiciel HighScore avec une base de donnée de plus de 300 000 produits

http://www.panalytical.com/Aeris.htm

Spectromètre SMPS

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  • Modèle TSI-3936NL86
  • Permet de mesurer la concentration des nanoparticules en fonction des diamètres de mobilité électrique et des diamètres aérodynamiques des particules.

Spectromètre Raman Horiba Lab-RAM ARAMIS

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  • Cet appareil sert à identifier et à doser les concentrations de solutés non détectables par absorption optique en raison de la trop grande absorption du solvant.
  • Les fréquences IR propres de vibrations de ces molécules (carbonates, oxalates, etc.) modulent des fréquences laser dans le visible et deviennent ainsi détectables dans le domaine de transparence des solutions.

Appareil à diffraction des rayons X (XRD)

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  • Brucker D8 Discover
  • L’unité XRD est un outil essentiel pour la recherche sur les matériaux. Elle peut produire de l’information sur l’identification des phases, la structure cristalline, les contraintes résiduelles et l’orientation cristallographique (texture).

 

REGAL-Laval

Université Laval

1065, avenue de la Médecine
Québec, Québec
G1V 0A6

Coordonnateur institutionnel

Carl Duchesne

418 656-5184 carl.duchesne@gch.ulaval.ca

Photos : © Université Laval et MACE3
 
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